热电子效应是由于在器件尺寸缩小的过程中,电源电压不可能和器件尺寸按同样比例缩小,这样导致MOS器件内部电场增强。当MOS器件沟道中的电场强度超过100千伏每厘米时,电子在两次散射间获得的能量将可能超过它在散射中失去的能量,从而使一部分电子的能量显著高于热*衡时的*均动能而成为热电子。高能量的热电子将严重影响MOS器件和电路的可靠性。热电子效应主要表现在以下三个方面,第一方面为热电子向栅氧化层中发射,第二方面为热电子效应引起衬底电流,第三方面为热电子效应引起栅电流。
想念是撕心裂肺的痛惜,有时候想念是我于愁心寄明月,君可知?你是春天的花儿,怎么样的一种思念,都是一种甘美。
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